防雷元件測(cè)試儀時(shí)間?(防雷元件測(cè)試儀 )
在測(cè)壓敏電阻漏流時(shí),顯示漏流值為什么漸漸上升至穩(wěn)定,短時(shí)間內(nèi)測(cè)同一個(gè)元器件,測(cè)出的數(shù)據(jù)為什么不一致?
被測(cè)壓敏電阻在測(cè)試時(shí),由于元器件內(nèi)部溫度影響,測(cè)漏流時(shí),大電流的沖擊,壓敏電阻內(nèi)部溫度變化比較大,漏電流隨著溫度的變化而變化,zui后趨于穩(wěn)定。氣體放電管內(nèi)部由于是隋性氣體組成。在電流的沖擊下,短時(shí)間內(nèi)難以恢復(fù)原來(lái)狀態(tài)必須經(jīng)過(guò)一段時(shí)間恢復(fù),才能獲得準(zhǔn)確結(jié)果,保證重復(fù)測(cè)試精度。
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